5. Shadow and refractometric methods

Т.В.Миронова
Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН

Систематические и статистические ошибки корреляционных измерений

Исследовано влияние свойств изображений, используемых для корреляционных измерений, на точность и стабильность получения субпиксельного значения положения максимума корреляционного пика. Приведена оценка статистической погрешности измерения сдвига в модели бинарных изображений. Даны рекомендации для выбора параметров изображений и корреляционного алгоритма.
Full text paper