Оптические методы исследования потоков - 2013

Г.М. Жаркова , В.Н. Коврижина
Институт теоретической и прикладной механики им. С.А. Христиановича СО РАН

Исследование чувствительности к сдвигу жидкокристаллических индикаторов касательных напряжений допированных частицами SiO2

Для модификации реологических свойств жидкокристаллических индикаторов касательных напряжений с целью расширения области их применения используются специальные добавки. В докладе приведены результаты экспериментального исследования влияния частиц диоксида кремния SiO2 на оптический отклик жидкокристаллических индикаторов сдвиговых напряжений. Исследовался оптический отклик планарной текстуры холестерических жидких кристаллов и эффект изменения максимума селективного отражения под воздействием набегающего дозвукового потока. Установлено, что добавление SiO2 уменьшает чувствительность к сдвигу селективного отражения ЖК, что связано с повышением вязкости.
Полный текст доклада